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RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4
Gracias por compartir tus investigaciones con la comunidad #stem-espanol. En algún momento veremos este espacio "Respuesta" reply o comentarios (como sería lo más conveniente llamarlo así) completamente lleno de preguntas, interacciones, hasta formar enlaces de trabajo y cooperación!
Buen trabajo estimado @cuarzo05
Muchas gracias a #stem-espanol, por la oportunidad que nos da de poder mostrar las cosas que hacemos. De igual forma, muchas gracias @iamphysical por su comentario. Claro, estoy presto a cualquier duda o cementario con respecto a este tema