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RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

in #stem-espanol • 7 years ago

Amigo, se aprecia el esfuerzo que haces por compartir tus conocimientos. Algunos tomamos de la comunidad para aplicarlo en nuestro trabajo. Saludos

7 years ago in #stem-espanol by
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     7 years ago 

    Saludos @marynes5, muchas gracias por su comentario. Cualquier duda o consulta sobre el tema estamos a la orden

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