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Homeby Witness Moecki
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RE: CARACTERIZACIÓN ESTRUCTURAL POR DIFRACCIÓN DE RAYOS X (DRX) DE UNA SOLUCIÓN SÓLIDA SUSTITUCIONAL DEL MATERIAL SEMICONDUCTOR Fe2-2XMn2XGeSe4

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osita21 (53)in #stem-espanol • 7 years ago

Excelente la comunidad stem-espanol creciendo.

7 years ago in #stem-espanol by osita21 (53)
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